主题：受话器，扬声器手机中烧毁问题

　　　　遇到烧毁问题也已经好久了，也曾经查询过很多的资料和做过很多的试验一直没能将音圈烧毁的根本原因解决。分析下来基本上是因为瞬间过电流的原因。音圈上至少需要500MA以上的电流才能够产生此类现象，但手机正常工作中是不可能有如此高的电流流过音圈的。普通待机电流在100MA以下，喇叭工作最大声时手机总的电流也不会超过500MA，究竟是那里能够产生如此大的电流呢？我做过试验喇叭在8V直流电压工作时才能瞬间将音圈烧毁。手机中电池或充电器供手机也就4.2V以内。那里来的高电压呢？有人说静电有影响，也试过了只对喇叭或受话器试验没有问题，因是阻性和感性器件是没有伤害的。对CMOS会有影响还可以肯定。给充电端口加高电压也试了，没有用，因手机充电端有电压限制电路。超不过4V。也从手机的信号着手分析信号或电压。随然有部分手机信号存在过电压或削波现象但多不是太厉害。也就在２.５Ｖ左右（喇叭）。综合分析应该不是直接导致喇叭或受话器烧毁的原因。从目前手机市场不良率来看喇叭烧毁现象已经比较普片啊，希望有高手引入话题解决难题。

     解决解决，如何解决该类问题，希望版主能够将 此稿置顶讨论，我相信不光是仅有的几个厂家出现过类似的问题，此问题应该是大家的一个心病啊。这种扯不清道不明的问题好头痛啊，只能理论分析却很难在试验室模拟出来。手机厂商和喇叭供货商一直在扯该问题。哪个坏找哪个，谁叫就烧你的喇叭呢。那就是你的问题。 但就目前烧喇叭现象而言往往高不良现象还是出现在一些档次比较低的手机厂商。特别是国内客户和一些台湾的代工厂。但就最近开始有些大的手机公司生产的手机也开始发生该类问题，不的不怀疑现在的手机已经开始向大路货方向发展。最有感触的是我们好多同型号的产品用在不同手机上出现该类问题的现象完全不一样，很多好的手机上就一直不出现但换个型号就有很高的比率。为什么呢？不知道有没有真正的高手出来给个解决方向。我怀疑这也跟目前手机成本的大幅缩水有关系。曾经也了解过在手机设计中的CMOS芯片出现部分管脚浮地再遇到静电或电磁干扰过程中会出现闩锁效应导致大电流输出造成烧毁。但无从证实，因该类现象很难在试验室再现。这也就涉及到手机的EMC的设计和试验了。不知道是否有大虾出来指点一二。