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主题:一个困扰了很久的耳机测试问题,求高手指点

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一个困扰了很久的耳机测试问题,求高手指点  发帖心情 Post By:2011-9-22 11:11:52 [显示全部帖子]

如图所示,我从开始接触耳机起,总是会遇到一个问题,很多入耳式耳机在使用IEC 711测试时,都会在大约200-400Hz之间有一个小波折,像个根号一样的,

有些名牌的耳机也会有,像图中绿色的sennheiser CX300-II的曲线,有些耳机却没有,像红色的曲线。

这好像是在adapter中有某些反射波存在,跟耳机硅胶套有些关系,但是又不完全是,两个不同的喇叭,使用同一个硅胶套,也会有不同的反应。

不知道各位有没有遇到过这样的问题?指点一下
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回复:(vincentwang)这种现象是“测试”时,产生的,...  发帖心情 Post By:2011-9-22 13:32:27 [显示全部帖子]

那请问下如何在测试中避免这个问题呢?

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回复:(小龙头)这是喇叭阻抗变化的原因  发帖心情 Post By:2011-9-23 16:13:27 [显示全部帖子]

楼上所说应该只是其中一个原因。
请看以下测试结果:耳机阻抗曲线是平滑的,且在IEC318上测试的频响也没有什么问题,装进耳机前壳之后再IEC711上测试也没有问题,但是耳机后盖一密封,就出来,且更换不同的硅胶套,幅度也不同。
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回复:(Eagle)如果不同的耳机都在同一个点附近出问题...  发帖心情 Post By:2011-9-23 16:18:12 [显示全部帖子]

这个问题在我见过的三家公司都出现过,其中一家还不是用soundcheck系统,只是现在发现这个问题比以前遇到的程度更重了一些。应该不是系统的问题。

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  发帖心情 Post By:2012-4-3 9:58:50 [显示全部帖子]

此疑问现在已经有眉目。是测试的问题,这个200-400hz 的小波折是耳机整体共振频率的体现。如果测试的时候扶着耳机,就不会出现这个问题。如果换不同硬度的硅胶套,因为阻尼不同,这个峰值也会不同。不同质量的耳机,波折的位置也不一样。

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