主题：我也来个有争议的题目：关于单元F0的测试

关于单元F0的测试，相信做过测试的朋友都有这样的经验，对同一个喇叭单元，当使用MLS信号进行测量出的F0会与扫频法得出的F0有不同。

想让大家讨论一下，问题可能会由什么原因造成？什么方法比较准确？

其实这是一个精度问题，看哪个仪器能更精确找到阻抗的最高点（取样点的多少很重要）。

一般仪器那个更精确?看上去MLS更精确,否决电脑不值钱!

我们的工程师是这样做的:那个接近客户的要求就用那个!SWEEP还方便我作假呢.哈哈,不要笑

又假使这个误差跟精度无关呢？大部分单元出来的误差比系统精度大多了。大家可不实际测量对比一下再作讨论？

呵呵，这种对比恐怕是从事这一行的人想不做都不行吧，假如折磨人的（客户）和被折磨的（供应商）使用不同的测试设备，一个使用LMS，一个使用MLSSA，同一个样品的T/S参数两个系统测出来就比较不同（比如LMS测出的Qt偏低），这种情况遇到过N次了，没什么好奇怪的！

比较测量的精确度，肯定用同一个待测件了，因此单元的设计误差和这是两回事！

提供两年多前，一个供应商提供给我的4寸低音的测试部分结果，我当时用的是SYSID，对方用的是LMS，哪个精确，其实挺好判断！
此主题相关图片如下：

看来我比较笨，说的不明白，这里撇开其他的不同，例如QT等，只谈F0，

也正如初哥兄下面的例子，就是一个F0这么简单，两种方法测量的差异在2HZ左右（一个65一个67HZ），这肯定就不是系统精度造成的啦，难道系统的精度或不到2HZ？----------或者说系统取样点相隔居然达到HZ级？有没有搞错？

呵呵，当我啥也没说过！。。。。。。

呵呵，初哥兄，可能我的语气有问题，请谅解

我提的这个问题，大概在2年前国外的一个讨论组里也引起了长篇大讨论，各种解释都有。

特别是在一些支持多种测试方式的同一系统中，其得到的阻抗曲线也是不一样的，因此我本人也比较疑惑，希望大家能讨论讨论。

呵呵，原来是这样啊，看来是误解了IMXP兄的问题！

这个问题，我也常遇到，即使同一种测试方式，前后做两次重复测试得到的阻抗曲线也有不一样（特别是在谐振点处）。

。。。。。。。。。

系统响应和扫速是个大问题，尤其在低频段。

一个原因就是跟测试信号的大小也有关系。

NHK一直在做音箱的比较，在房间的主监听这类音箱上他们一般在低频都测量3根曲线，50毫瓦，1瓦，200瓦。很有趣的是这3根曲线并不重合，有些型号小信号比较平，有些型号大信号比较平。

我遇到的问题是测试阻抗曲线时,同样的电压和同样的信号(MLS),每次测出都会有一定的差异,集中在谐振峰附近,各位DX能给个意见不?

这就是测量误差,在一定程度以内是允许的.

当然,能做预负荷处理则更好(误差会小些)

50MW、1W、200W的不重合，那是很容易解释的。

倒是同一电平下，不同方法得到的阻抗曲线或者初哥说的那种现象值的考虑考虑

连续扫频法可能精度好一些。

频响法是一种非连续拟合法，误差可想而知。

另外测试原理依据的是回路的响应函数，可想而知，不同的仪器条件，线路影响带来的点移是有区别的。

功率大小带来的元件值的变化是肯定的，用小信号（如1V，2.83V),还是用模拟实际值条件,如同小信号参数和大信号参数,还是看客户需要吧.

测试环境,温湿度,单元的准备状况,测试中读取时间不能不考虑!

我个人认为有以下两点：

一是信号不同，扫频法测试时，扬声器是单频点工作，而MLS信号却是让扬声器全频工作。这样实际上扬声的工作状态是不一样，这可能是造成测试结果不一样的一个原因。还有功率呢？即使相同的电压，一个是单频，一个是全频，功率是不是一样？如果功率一样了，我相信单频信号造成扬声的振幅应该会大于MLS信号时扬声器的振幅。因为单频信号功率是集中在一点，而全频信号的功率是分散的，因此可能扫频法测得的Fo会更低一些。

二是分析方式不同，MLS是通过计算才得出的阻抗曲线。我曾经遇到过同一只喇叭连续用MLS信号测阻抗曲线，每次得出不同的结果。我认为是因为这种计算的方式可能会放大误差，即测试的时候条件稍微有点差异，送到分析仪内的信号就差一点，然后计算出来的结果差别就更大了。我相信很多人都认同，往往越原始的东西，越经得住考验。所以遇到这种情况，我更相信扫频法得出的结果——至少它少一些计算过程就少一些引入误差的可能。

顶！

禁得住考验的是第一手数据，扫频的结果已经混入环境变量了吧；偶觉得引入算法才是提高精度的王道

呵呵,楼上的DX再仔细看看这两组参数,就知道差别有多大了,不要只盯着谐振频率!!