标题：请教宽频带受话器高频频宽不足问题

此主题相关图片如下：膜片图片.jpg


此主题相关图片如下：频响曲线.jpg

各位高人:

兄弟最近做15*6*2.5宽频带HAC受话器，其高频频宽总是不足或不稳定，现传上目前试做效果最优的膜片图与频响曲线，请给我给点建议吧！

兄弟这拜谢了。

注：不能采用复合膜片方式，如果采用复合膜片，那振动质量会增加导致灵敏度下降更厉害了，本来磁路间隙比较大灵敏度已经偏低了，再低就没有客户要了。

你的目标是接近NXP的吗？

1、对比一下（测量或计算）两者的等效质量；

谢谢奚工！

等效质量我的要大于NXP的！等效质量太低的话我的F0无法调下来

音圈位的平台改小后无变化

振膜材质是不太一样，我的是10U PEI，NXP的是6UPEN

胶水是一样的UV胶，溶剂胶也没有差异。

整体的灵敏度是有差异，但是差2DB我们接受，再低就不可以了。BL值是有差异，我的磁路比NXP的要大，但是磁路间隙也要大，这是我们工艺能力的限制。

不同花纹的膜片其高频的振动模态有不一样，这款膜片是目前最优的效果了，如果当初音圈窄一点就好了，可是什么东西都OK了，就差一点要大动不甘心呀。

 

费工，我的目标不是接近与NXP，只是希望能将高频的谷点能再小点。只有能够全部入框线就OK了，您有什么好建议吗？

PEN的杨氏模量E是PEI的两倍左右, 高频一般来说是E越大越好, 比如说专业高音的常会用钛膜.

F0可以通过改变厚度和形状来调整, 当然6u的工艺(合格率)难做.

不同花纹的膜片其高频的振动模态有不一样, 有没改变材料看看模态频率点的差异?

NXP的测试方法令人费解, 但很多大客户居然就认可了.

 

本人一直建议用此方法测试受话器看看, 能说明很多问题, 尤其是高频的特性和低频的特性.

 

但此法很难直接找到跟常规受话器测试方法一一对应的简单关系(肯定有关系,只是比较复杂,声负载不同)

没有了前盖和开孔以及"调音纸"之类, 受话器如何调整曲线?

没有了后面的"调音纸"之类, 受话器又如何调整曲线?

 

省掉几种材料和几道工序,成本的节约是很可观的,尤其是量相当大时.

这个产品我有几个前提：

1、磁路间隙必须比NXP的大，如果等同的话产品量产可能性不高，我们没有NXP那么好的工艺能力，目前的良率基本能达到95%（纯音检听电压0.9V）

2、膜片必须是10U以上的膜片，6U的膜片太容易变形了，那如果量产也很难的，而且要铜圈膜片，成本又会上去很多。

3、球顶采用复合球顶也不可以，20U PEI复合球顶也没有效果。

目前唯一的方法基本只能调整膜片了，我想尝试总有成功的机会。

吴工,也是随便说说.

 

工艺和合格率, 确实是头疼的事.

 

NXP的产线合格率是在97%以上, 真令人羡慕!

我想再试试宽度方向的花纹斜角在加大一点，花纹长一点。

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两种图分别是用6u PEN和10u PEI模拟的, 附加质量没变.

 

F0和其它模态的频率点有差异.

THD 情况如何？

后面两张图片是6U PEN吗？

前面的跟我测试的相差不大。