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声学楼论坛 http://www.nju520.com/bbs/
重拾3年前的一直关系的话题,,
对于低频段的THD目前很多DX已经掌握了其改善、抑制的方法。但是对于中高频的THD过高,目前很多地方还很迷茫。
有的时候不单单是球顶的问题、有的时候悬边也不是主要的问题。
在膜片上的体现究竟是什么因素呢?我和很多DX都在头痛。
简单的说中高频的THD失真过高,在膜片上的体现是某一部分振动异常(发生了谐振、扭曲、摇摆等)。
对于不同的音圈形状的跑道形扬声器应该分开来看:
1. 跑道形膜片与圆形音圈
2、跑道形膜片与跑道形音圈(悬边接近等宽)
没人回答其实都在等楼主自问自答!
普通圆形膜出现高频THD峰时,在仿真时有明显变异的球顶中心独振模态,不知异形膜片是否也有此特征?
许久不做喇叭了,现在也没有条件开模验证了……
没人回答其实都在等楼主自问自答!
其实是想从F方面的传递去分析,,,
此主题相关图片如下:2010126828122462.jpg
刚刚看到一篇帖子,似乎又可以分析:
http://www.nju520.com/bbs/dispbbs.asp?boardid=2&id=19611&authorid=0&page=0&star=2
高频分割振动导致的THD上升和SPL曲线上的峰谷一般可以从以下几个方面分析:
1. 频率-和振膜材料的尺寸,形状,边界约束,密度,杨氏模量有关。
2. 幅度-和材料的阻尼有关(可以通过阻尼胶调整)
当然,由于线圈和振膜是紧密结合的,线圈的振动模态也会导致振膜出现分割振动(通过更换线圈胶或线圈的线径,层数可以调整相关THD,SPL表现)
高频分割振动导致的THD上升和SPL曲线上的峰谷一般可以从以下几个方面分析:
1. 频率-和振膜材料的尺寸,形状,边界约束,密度,杨氏模量有关。
2. 幅度-和材料的阻尼有关(可以通过阻尼胶调整)
当然,由于线圈和振膜是紧密结合的,线圈的振动模态也会导致振膜出现分割振动(通过更换线圈胶或线圈的线径,层数可以调整相关THD,SPL表现)
一直想用激光全息进行扫描对比,,
可以使用POLYTEC的激光测振仪!北航,清华大学各有一台,听说AAC也有一台,估计一些大学也都有,可以考虑借用(时段)去做实验。我这边有1115振膜使用3D激光测振实测的模态,可以供大家参考!压缩后约10M!感兴趣可以发邮件给我,我传给你!ronaldming@126.com
可以使用POLYTEC的激光测振仪!北航,清华大学各有一台,听说AAC也有一台,估计一些大学也都有,可以考虑借用(时段)去做实验。我这边有1115振膜使用3D激光测振实测的模态,可以供大家参考!压缩后约10M!感兴趣可以发邮件给我,我传给你!ronaldming@126.com
以前曾经用过KLIPPEL 的SCN进行过激光扫描实际的震动模态(包括真空状态下)。
Polytec是不错,就是太贵了。
一些大学的测试都是需要付费的,800元一小时左右!
当后阻尼材料的透气性相当弱时,此时SPK的后腔相当于密闭式腔体,此时SPK的F0转变成FC。
使用IEC-60318仿真耳进行测试多在中高频段(一般均在3K~6KHz左右)有峰值出现,此时其的FC也在这一频段;在自由场测试,FC以下的频率与没有使用阻尼材料时对比,其出现了大幅度的衰减。
使用不同目数的调音网,其阻抗曲线的峰值的高低也是不同的。其实是调整的阻尼。相对而言这个频段是其谐振频率的频段,算不上此款产品的中高频段。
以下是摘自电声技术《受话器各部件与频响曲线之间的关系》:
此主题相关图片如下:阻尼材料.png
以下摘自《阻尼材料的作用与应用》:
此款案例是一款2030的单元。
分析中高频段的THD似乎要排除F0或者FC是否在此频段。
我们这边也是委托大学做的,按项目每年签协议!目前我们正在进行微型扬声器复合振膜研究项目,如果你要测试的样品正好也是我们研究的方向,可以免费帮您测试!
我们这边也是委托大学做的,按项目每年签协议!目前我们正在进行微型扬声器复合振膜研究项目,如果你要测试的样品正好也是我们研究的方向,可以免费帮您测试!
后续有机会,烦请兄台帮手测试下。
前期也曾经激光全息过:
此主题相关图片如下:3d.png
小马哥客气了!有事只管联系:ronaldming@126.com (我在北京,常下到深圳,收到邮件后我会回复详细的联系信息给你)
目前我们的研究项目一方面使用有限元工具(ANSYS)进行振膜,线圈,磁路的建模;另一方面在大学进行样品振动模态的实际测试(POLYTEC)
对于完成的单体,我们有AP可以进行完整的声学测试!