标题：遇到一个有关感度变化的相当奇怪的问题

1楼

ecmphone 发表于：2011-8-1 11:04:27

4011产品，测试探针下压力度的大小可以影响20个dB，非常惊奇，怎么会这样？卷边时已经压的很紧了。

烦请高手解答，谢谢！

[此贴子已经被作者于2011-08-01 11:05:23编辑过]

2楼

wsong23 发表于：2011-8-2 9:15:53

原来也碰到过类似情况，当时分解后，显微镜下观察发现由于FET管脚位置刷锡时过小从而导致间隙性接触不良。后增大FET管脚焊盘位置和刷锡量解决此问题。

供参考。

3楼

wsong23 发表于：2011-8-2 9:21:42

还有就是要考虑到FET的高度是否与铜环高度匹配

4楼

ecmphone 发表于：2011-8-2 17:08:55

以下是引用wsong23在2011-08-02 09:15:53的发言：

供参考。

谢谢！

会增大焊盘试试。

5楼

ecmphone 发表于：2011-8-2 17:09:43

以下是引用wsong23在2011-08-02 09:21:42的发言：
还有就是要考虑到FET的高度是否与铜环高度匹配

铜环0.45，JFET0.35mm，应该没问题吧？

6楼

琵琶琴瑟 发表于：2011-8-14 13:38:13

我也遇到了类似问题

7楼

lxfadj 发表于：2013-3-11 9:35:18

锡膏的厚度呢？或者线路板厚度偏小，导致压测的压力影响较大

8楼

kekewf 发表于：2013-4-24 14:01:16

20dB的变化？这是一个致命性故障，

一般猜测为工艺方面的原因，

建议注意应力问题。

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