以下是引用XS在2006-07-14 08:58:11的发言:
没看到DB也正为这事发愁吗?
我发愁了吗? 我看到有人愿出高价买,推荐给大家一个发财机会啊.
老实说,对柔性材料膜结构测试不是那些小虾所想的简单.
还是xs老大的经验值钱啊,呵呵.
只能私下说了,我可不想成冤大头,除了xs老大须出重金外
[此贴子已经被作者于2006-07-14 12:52:32编辑过]
可否这样,假如膜片气密性好的话。用一个自定的标准音膜做推动源,再以通过测试多少电流而得到相同的待测膜片位移,这样应该可以建立一个交叉分布表,从而判断硬度的大小。仪器虽复杂,但是不损耗其它材料。而且应该在测柔性膜片的时候会应该会存在很大的误差。说到这,我觉得理论上还有一个办法:原理上也是运用了材料在共振时的特性,从电阻抗方面入手,不过那个要求其它有关配合材料的一致性要非常好才行。而且准备时间要稍长一些(要组装啊)。这个方法就是一切通杀!凡事有利必有弊啊。
以下是引用LHC8010在2006-07-22 12:16:36的发言:
可否这样,假如膜片气密性好的话。用一个自定的标准音膜做推动源,再以通过测试多少电流而得到相同的待测膜片位移,这样应该可以建立一个交叉分布表,从而判断硬度的大小。仪器虽复杂,但是不损耗其它材料。而且应该在测柔性膜片的时候会应该会存在很大的误差。说到这,我觉得理论上还有一个办法:原理上也是运用了材料在共振时的特性,从电阻抗方面入手,不过那个要求其它有关配合材料的一致性要非常好才行。而且准备时间要稍长一些(要组装啊)。这个方法就是一切通杀!凡事有利必有弊啊。
要仔细看看啊!
以下是引用LHC8010在2006-07-22 12:16:36的发言:
可否这样,假如膜片气密性好的话。用一个自定的标准音膜做推动源,再以通过测试多少电流而得到相同的待测膜片位移,这样应该可以建立一个交叉分布表,从而判断硬度的大小。仪器虽复杂,但是不损耗其它材料。而且应该在测柔性膜片的时候会应该会存在很大的误差。说到这,我觉得理论上还有一个办法:原理上也是运用了材料在共振时的特性,从电阻抗方面入手,不过那个要求其它有关配合材料的一致性要非常好才行。而且准备时间要稍长一些(要组装啊)。这个方法就是一切通杀!凡事有利必有弊啊。
老实说,我看到贴子的第一个念头也是这个想法,但是不对,这个测的还是顺性。
要我说,唯一可行的方法,是测量型材的系列材料参数(包括ExEy柏松比密度),然后ansys或者其他CAE软件建模来模拟,这个可能是目前来讲唯一可行的方法了,db兄说有没有道理/?
目前非接触测系列的材料参数的方法已经有点眉目了,但是膜片属于薄壳类的材料,不适合我的方法,正在找出路
[此贴子已经被作者于2006-07-25 02:25:05编辑过]
我的天哪,这么一个贴子,改来改去就是改不好,干脆重新回复一贴。有管理员看到帮我删掉30楼的,以本贴为准
以下是引用LHC8010在2006-07-22 12:16:36的发言:
可否这样,假如膜片气密性好的话。用一个自定的标准音膜做推动源,再以通过测试多少电流而得到相同的待测膜片位移,这样应该可以建立一个交叉分布表,从而判断硬度的大小。仪器虽复杂,但是不损耗其它材料。而且应该在测柔性膜片的时候会应该会存在很大的误差。说到这,我觉得理论上还有一个办法:原理上也是运用了材料在共振时的特性,从电阻抗方面入手,不过那个要求其它有关配合材料的一致性要非常好才行。而且准备时间要稍长一些(要组装啊)。这个方法就是一切通杀!凡事有利必有弊啊。
老实说,我看到贴子的第一个念头也是这个想法,但是不对,因为你测量的时候,馈给dome的是由被压缩的空气(或者其他媒介)提供的,均匀的面力;dome实际工作时,受到的驱动力是沿着VC上边缘提供的策动力,而这类薄壁或者说膜材料在不同的受力状态下,其结构行为不一样。所以,我认为这个测试方法得到的结果不可信
要我说,唯一可行的方法,是测量型材的系列材料参数(包括ExEy柏松比密度),然后ansys或者其他CAE软件建模来模拟,这个可能是目前来讲唯一可行的方法了,db兄说有没有道理/?不过让你们买ANSYS有点太那个了,可以考虑请专家搞一个专家系统,呵呵。db兄其实可以接下这个任务的,搞个几十万的研究经费来花花也好啊
目前非接触测系列的材料参数的方法已经有点眉目了,但是膜片属于薄壳类的材料,不适合我的方法,正在找出路
呵呵,可以来一起搞啊.
这种柔性薄膜材料,我接触也好久了.
过去我碰到过松下的日本人,也有过探索.
我真有一些想法,只是没有时间专门去做.兄弟有兴趣的话,可以一起来接.