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关于单元F0的测试,相信做过测试的朋友都有这样的经验,对同一个喇叭单元,当使用MLS信号进行测量出的F0会与扫频法得出的F0有不同。
想让大家讨论一下,问题可能会由什么原因造成?什么方法比较准确?
一般仪器那个更精确?看上去MLS更精确,否决电脑不值钱!
我们的工程师是这样做的:那个接近客户的要求就用那个!SWEEP还方便我作假呢.哈哈,不要笑
又假使这个误差跟精度无关呢?大部分单元出来的误差比系统精度大多了。大家可不实际测量对比一下再作讨论?
呵呵,这种对比恐怕是从事这一行的人想不做都不行吧,假如折磨人的(客户)和被折磨的(供应商)使用不同的测试设备,一个使用LMS,一个使用MLSSA,同一个样品的T/S参数两个系统测出来就比较不同(比如LMS测出的Qt偏低),这种情况遇到过N次了,没什么好奇怪的!
比较测量的精确度,肯定用同一个待测件了,因此单元的设计误差和这是两回事!
一般仪器那个更精确?看上去MLS更精确,否决电脑不值钱!
我们的工程师是这样做的:那个接近客户的要求就用那个!SWEEP还方便我作假呢.哈哈,不要笑
提供两年多前,一个供应商提供给我的4寸低音的测试部分结果,我当时用的是SYSID,对方用的是LMS,哪个精确,其实挺好判断!
此主题相关图片如下:
呵呵,这种对比恐怕是从事这一行的人想不做都不行吧,假如折磨人的(客户)和被折磨的(供应商)使用不同的测试设备,一个使用LMS,一个使用MLSSA,同一个样品的T/S参数两个系统测出来就比较不同(比如LMS测出的Qt偏低),这种情况遇到过N次了,没什么好奇怪的!
比较测量的精确度,肯定用同一个待测件了,因此单元的设计误差和这是两回事!
看来我比较笨,说的不明白,这里撇开其他的不同,例如QT等,只谈F0,
也正如初哥兄下面的例子,就是一个F0这么简单,两种方法测量的差异在2HZ左右(一个65一个67HZ),这肯定就不是系统精度造成的啦,难道系统的精度或不到2HZ?----------或者说系统取样点相隔居然达到HZ级?有没有搞错?
看来我比较笨,说的不明白,这里撇开其他的不同,例如QT等,只谈F0,
也正如初哥兄下面的例子,就是一个F0这么简单,两种方法测量的差异在2HZ左右(一个65一个67HZ),这肯定就不是系统精度造成的啦,难道系统的精度或不到2HZ?----------或者说系统取样点相隔居然达到HZ级?有没有搞错?
呵呵,当我啥也没说过!。。。。。。
呵呵,当我啥也没说过!。。。。。。
呵呵,初哥兄,可能我的语气有问题,请谅解
我提的这个问题,大概在2年前国外的一个讨论组里也引起了长篇大讨论,各种解释都有。
特别是在一些支持多种测试方式的同一系统中,其得到的阻抗曲线也是不一样的,因此我本人也比较疑惑,希望大家能讨论讨论。
呵呵,原来是这样啊,看来是误解了IMXP兄的问题!
这个问题,我也常遇到,即使同一种测试方式,前后做两次重复测试得到的阻抗曲线也有不一样(特别是在谐振点处)。
。。。。。。。。。
系统响应和扫速是个大问题,尤其在低频段。
这就是测量误差,在一定程度以内是允许的.
当然,能做预负荷处理则更好(误差会小些)
50MW、1W、200W的不重合,那是很容易解释的。
倒是同一电平下,不同方法得到的阻抗曲线或者初哥说的那种现象值的考虑考虑
连续扫频法可能精度好一些。
频响法是一种非连续拟合法,误差可想而知。
另外测试原理依据的是回路的响应函数,可想而知,不同的仪器条件,线路影响带来的点移是有区别的。
功率大小带来的元件值的变化是肯定的,用小信号(如1V,2.83V),还是用模拟实际值条件,如同小信号参数和大信号参数,还是看客户需要吧.
测试环境,温湿度,单元的准备状况,测试中读取时间不能不考虑!
我个人认为有以下两点:
一是信号不同,扫频法测试时,扬声器是单频点工作,而MLS信号却是让扬声器全频工作。这样实际上扬声的工作状态是不一样,这可能是造成测试结果不一样的一个原因。还有功率呢?即使相同的电压,一个是单频,一个是全频,功率是不是一样?如果功率一样了,我相信单频信号造成扬声的振幅应该会大于MLS信号时扬声器的振幅。因为单频信号功率是集中在一点,而全频信号的功率是分散的,因此可能扫频法测得的Fo会更低一些。
二是分析方式不同,MLS是通过计算才得出的阻抗曲线。我曾经遇到过同一只喇叭连续用MLS信号测阻抗曲线,每次得出不同的结果。我认为是因为这种计算的方式可能会放大误差,即测试的时候条件稍微有点差异,送到分析仪内的信号就差一点,然后计算出来的结果差别就更大了。我相信很多人都认同,往往越原始的东西,越经得住考验。所以遇到这种情况,我更相信扫频法得出的结果——至少它少一些计算过程就少一些引入误差的可能。
顶!
禁得住考验的是第一手数据,扫频的结果已经混入环境变量了吧;偶觉得引入算法才是提高精度的王道