主题：[求助]关于开孔式音箱的近场测试

看这个帖子，看的晕头转向，说出结果的不说原因，为什么是减？

个人觉得，无论是否倒相孔或者多个单元，在低频的时候，由于波长已远远大于它们的尺寸甚至它们之间的距离，因此，对多个辐射源来说，我们可分别测量他们的瞬时声压，然后按其辐射面积换算，再矢量叠加（更准确的可考虑多辐射源之间的距离）便可以得到他们对应于1米或N米的低频特性（仅指安装在无限大的障板上的）。

这种叠加方法对于能测量实际相频特性的测量系统是完全没有问题的，比如MLLSA，但对于LMS这样的测量系统来说，（由于我没有使用过LMS系统，以下所有都是道听途说回来的，错了的话饶了我吧）由于LMS不能得到实际的相频特性，仅根据其幅频响应而通过希伯特转换得到该幅频响应对应的所谓的最小相频特性。所以。。。

按道理来说无论扬声器振膜和倒相孔在近场测试的时候都可以视作最小相位系统，故此上面的转换出来的相位曲线并无技术上会引起变化的问题（指针对叠加来说），那为什么需要对某一声源相位进行反相再进行叠加呢？估计还是LMS对相频的转换问题引起的。

以上乱批一通，希望大家给我解惑

问题到这里，考虑了一下才豁然开朗，虽然无论扬声器振膜和倒相孔在近场测试的时候都可以视作最小相位系统，但通过希伯特转换出来的相位特性，跟真实的该声中心的相位仍然有正相或反相的差别。最简单的验证办法就是在同样环境下测量同一喇叭单元，喇叭单元一次正接另一次反接，转换得到的相位特性仍是一样的，因此该种转换对绝对相位（正反）是“盲”的，此注意要延伸到使用LMS的各场合